迪科特测试科技(苏州)有限公司(teCat Test Technologies),位于苏州人工智能产业园区,致力提供领先行业界,全面的半导体测试设备和技术咨询服务,一站式的服务,深受客户的信赖。
迪科特的产品涵盖了集成测试系统、混合信号ATE测试设备、工程测试探针台、WAT参数/可靠性测试探针卡、自动测试探针卡,如驱动芯片测试、图像传感器测试等等。
在苏州人工智能产业园区内,拥有完备的可靠性试验的实验设备和实验室,包含针对制造程序的PLR和WLR可靠性测试系统,和各种测试标准和环境的可靠性验证设备,能为半导体行业带来完整的可靠性验证解决方案。
为了确保质量的一致性并严格维持高标准,迪科特已通过标准体系:ISO9001和ISO/IEC 17025:2017,采用超越业界标准的管理程序。
我们期许迪科特,能通过最前研的技术,提供行业客户卓越和高价值的解决方案。
· 全合Per-Pin PLR/WLR可靠性测试系统
· 具備source-measure能的Per-Pin SMU配置
· 提高测量精度和效率,提高测量精度和效率,以满足所有工程和生产需求
· 符合成本效益和生产测试的设计
· 多重视图显微镜,上下移动视点的相机
· 独立三轴300mm晶圆校正接合座(Chuck)
· 遮蔽/保护/浮动性/低噪音的冷热外壳硬件
· 全自动/半自动测试探针台选项
· 专为器件特性测试和程序控制设计的4插槽切换矩阵
· 低漏电流模块可由基本10x12渠道,最多扩充至10x48通道
· 可按测试需求,弹性地选择单一通道或多通道信号输出
· 选择高电压低漏电流切换模块,可达3000伏特
· 悬臂探针卡
· 多site 多dut 同测
· Single dut探针数可以达到3000pin以上
· 间距pitch<45um
· 可以根据不同测试平台定制设计制作
· 并行同测数(1, 1X2, 2, 2X4, 4, 8DUTs, etc)
· 垂直式探针卡
· 搭配可置换间距的转换版可用于高速高频测试(至50GHz)
· 温度范围广(200゚C)且高速稳定
· 多站点高针数,间距pitch(>60um)
· 垂直式探针卡可应用于V93K, T2K, Ultra-Flex,J750等
本司将参加2023年5月10日-12日在重庆国际博览中心举办的第五届全球半导体产业(重庆)博览会,此次展会以“集智创芯、共塑未来”为主题,展示面积达25000㎡,参展企业预计达350家,聚焦半导体产业核心技术及发展趋势,拟设“IC设计、集成电路制造、封装测试、半导体材料、设备制造、电子元器件、AI+5G、智慧电源、综合展”等主题专区,专业呈现半导体产业最新技术成果,检索更多智能应用领域创新案例,搭建专业高端的产业生态交流合作平台,邀请20000名专业观众参观。同期还将举办“第五届未来半导体产业发展大会”论坛活动,组委会将尽全力打造最专业的上下游交流合作平台。
迪科特测试科技(苏州)有限公司诚邀您参加本次博览会,届时共同分享半导体产业创新产品、技术及解决方案,充分彰显企业高端品牌形象!