迪科特测试科技（苏州）有限公司（teCat Test Technologies），位于苏州人工智能产业园区，致力提供领先行业界，全面的半导体测试设备和技术咨询服务，一站式的服务，深受客户的信赖。

迪科特的产品涵盖了集成测试系统、混合信号ATE测试设备、工程测试探针台、WAT参数/可靠性测试探针卡、自动测试探针卡，如驱动芯片测试、图像传感器测试等等。

在苏州人工智能产业园区内，拥有完备的可靠性试验的实验设备和实验室，包含针对制造程序的PLR和WLR可靠性测试系统，和各种测试标准和环境的可靠性验证设备，能为半导体行业带来完整的可靠性验证解决方案。

为了确保质量的一致性并严格维持高标准，迪科特已通过标准体系：ISO9001和ISO/IEC 17025:2017，采用超越业界标准的管理程序。

我们期许迪科特，能通过最前研的技术，提供行业客户卓越和高价值的解决方案。

· 全合Per-Pin PLR/WLR可靠性测试系统

· 具備source-measure能的Per-Pin SMU配置

  · 提高测量精度和效率，提高测量精度和效率，以满足所有工程和生产需求

· 符合成本效益和生产测试的设计

· 多重视图显微镜,上下移动视点的相机

· 独立三轴300mm晶圆校正接合座(Chuck)

· 遮蔽/保护/浮动性/低噪音的冷热外壳硬件

  · 全自动/半自动测试探针台选项

· 专为器件特性测试和程序控制设计的4插槽切换矩阵

· 低漏电流模块可由基本10x12渠道,最多扩充至10x48通道

· 可按测试需求,弹性地选择单一通道或多通道信号输出

  · 选择高电压低漏电流切换模块，可达3000伏特

· 悬臂探针卡

· 多site 多dut 同测

· Single dut探针数可以达到3000pin以上

· 间距pitch<45um

   · 可以根据不同测试平台定制设计制作

· 并行同测数（1, 1X2, 2, 2X4, 4, 8DUTs, etc）

· 垂直式探针卡

· 搭配可置换间距的转换版可用于高速高频测试(至50GHz)

· 温度范围广(200ﾟC)且高速稳定

· 多站点高针数,间距pitch(>60um)

  · 垂直式探针卡可应用于V93K, T2K, Ultra-Flex,J750等