SEMISHARE研发的A12是一款12寸（兼容8寸）的量产型全自动晶圆探针台，设备可与不同类型的Parametric 及ATE测试机组合并用，通过使探针卡与晶圆Pad点之间精准接触，实现完成晶圆WAT/CP测试，该设备操作简单并具有良好的机械稳定性，能为客户提供一个具有成本优势且高产量的晶圆测试解决方案，满足（晶圆厂、封测厂、测试厂）等不同客户的测试需求。

自主开发软件，简单易操作，可实现7×24小时无人值守

自主研发的软件系统，兼容性强，功能强大且操作简单，对新手操作员来说非常友好。可在夜间或周末将测量作业置于运行状态，通过高分辨率和高精度的温度控制，支持在不同的温度下测试晶圆上的所有器件，并且不需要操作人员的干预。如果探针偏离了与Pad对准的状态，则系统将自动把它们重新对准，节省测试时间，拥有强大的Wafermap编辑功能，支持离线和文件导入导出功能。

视觉自动精确校准

在测试情况下，光的精确放置是至关重要的，视觉自动精确校准，在某些情况下能够减少测试时间从几个月到几分钟。自主设计的上下显微镜系统，独特的上下对焦和对中光学技术，同时搭配4套200万像素高清晰数字相机，精密气动式上显微镜结构，保证了校准和扎针在相同区域，且每个显微镜都具备高低倍率，满足高精度的对位和针尖识别需求。

高强度低重心设计结构，高精度和测试速度，大大提升测试效率

产品特点：

SEMISHARE X12半自动探针台是在-60℃～300℃环境下通过探针或探针卡点测样品pad电极,通过连接测试仪器加载和测量电学信号，并在软件端对电学信号进行控制、判断与存储，并将判断信息反馈至喷墨系统，对次品芯片（die）进行打点标记，其中，标记方式可根据客户要求设定。在一个芯片（die）测试完成后，通过软件控制系统将chuck机械平台移动至下一个待测芯片（die），依次进行循环测试。

SEMISHARE X12（X Series）是一款集成了电学、光波、微波、等测试功能的半自动探针台，专业应对12寸Wafer (向下兼容8寸，6寸）Si，GaN，SiC等各类材质的先进芯片的性能测试。可对晶圆、MEMS、生物结构、光电器件以及其他集成电路、LED、LCD、太阳能电池等进行7*24全天候在片探测，并可加载温控系统，满足客户于高低温环境下的各种性能测试要求。

产品特点：

从全球市场看，半导体探针台设备行业集中度较高，目前主要由国外厂商主导，行业呈现较高垄断的竞争格局。鉴于自动化探针台是光、机、电高度一体化的产品，国内在这一方向研究几乎为零，市场主要被一些国外的大公司垄断。SEMISHARE2017年投产X系列半自动探针台并成功推向市场，成功填补国内该研发生产领域的空白。

SEMISHARE（深圳市森美协尔科技有限公司）研发的X系列半自动探针台是高精度探针台并已成功实现量产和获得国内龙头企业批量订单。其技术指标可以达到国际领先水平，部分参数甚至优于国际一线品牌，深圳市计量质量检测研究院日前已对半自动晶圆探针台X系列完成检测并出具相应检测报告。

产品特点：